高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的更好解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用QBG-3E或AS2853A數字Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。

高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統(tǒng)

本設備適用標準

1 、GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

2 、GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

3 、ASTM-D150-介電常數測試方法

4、 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法

5、916（數顯）介電常數ε_r和介質損耗因數tanδ測試裝置：

固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）  

液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

6、主要測試材料：絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等